Pressemitteilung der FH Gießen-Friedberg

Zu Gast auf der Control, der internationalen Fachmesse für Qualitätssicherung in Stuttgart, war ein Team des Kompetenzzentrums Nanotechnik und Photonik der FH Gießen-Friedberg. Prof. Dr. Ubbo Ricklefs und Dipl.-Ing. Stefan Charissé präsentierten auf einer Sonderschau des Fraunhofer-Instituts ein neues „Verfahren zur berührungslosen optischen Positions- und Geschwindigkeitsmessung“. Mit dem Verfahren, das von Charissé in seiner Diplomarbeit entwickelt wurde, sind auf den Mikrometer genaue Messungen möglich. Potenzielle Einsatzfelder liegen zum Beispiel in der Sensorik für autonome Roboter, auf dem Gebiet der Positionierungssysteme oder der Wegmessung in industriellen Anwendungen.

Ricklefs wertete den Besuch auf der internationalen Leistungsschau, die fast 20.000 Fachbesucher aus über 60 Ländern anzog, als Erfolg. Die Präsentation des Kompetenzzentrums Nanotechnik und Photonik habe regen Zuspruch gefunden. Mit mehreren Firmen stehe er nun in Verhandlungen über eine gemeinsame Weiterentwicklung und die Verwertung des bereits patentierten Verfahrens.